光炎量子效率光傳感器特性分析儀

簡要描述：光焱科技新推出光炎量子效率光傳感器特性分析儀PD-QE測試系統(tǒng)，針對第三代半導體材料Photodiode/Photodetector的相關(guān)特性測試，整合新高精密直流可耐電壓偵測技術(shù)，與傳統(tǒng)交流模式下測量EQE使用鎖相放大器、電壓無法加過12V相比，該系統(tǒng)高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達0.1fA，可滿足客戶多種量測需求。

產(chǎn)品型號： PD-QE

所屬分類：光焱量子效率測量系統(tǒng)

更新時間：2024-10-10

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

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詳情介紹

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PD-QE光炎量子效率光傳感器特性分析儀介紹：

光焱科技新推出PD-QE測試系統(tǒng)，針對第三代半導體材料Photodiode/Photodetector的相關(guān)特性測試，整合新高精密直流可耐電壓偵測技術(shù)，與傳統(tǒng)交流模式下測量EQE使用鎖相放大器、電壓無法加過12V相比，該系統(tǒng)高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達0.1fA，可滿足客戶多種量測需求。

PD-QE光炎量子效率光傳感器特性分析儀特點：

使用均勻光斑的"照度模式"(Irradiance Mode)符合ASTM E1021；

取代傳統(tǒng)聚焦小光斑，可以測試um等級的光電傳感器；

均勻光斑可以克服色散差與像差的問題，可準確測得EQE曲線；

可搭配多種探針臺系統(tǒng)，實現(xiàn)非破壞性的快速測試；

集成的光學與測試系統(tǒng)，提高系統(tǒng)搭建效率；

一鍵式自動化測試軟件，自動全光譜校正與測量，工作效率高。

測試特性：

外部量子效率EQE

光譜響應(yīng)SR

I-V曲線測量

NEP光譜測量

D*光譜測量

Noise-current-frequency響應(yīng)圖(A/Hz-1/2;0.01Hz~1,000Hz)

Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析

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