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光炎量子效率瞬態(tài)光電流光電壓測(cè)試儀光電流、開(kāi)路電壓的瞬態(tài)特性、載流子遷移率、載流子壽命、載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程等是表征新型太陽(yáng)電池器件的重要參數(shù)。由于新型太陽(yáng)電池器件存在面積小、光電流小等特性，非常難以準(zhǔn)確測(cè)量出光電流隨時(shí)間的變化，我們可以利用瞬態(tài)光電流/光電壓測(cè)試儀，對(duì)有機(jī)太陽(yáng)能電池OPV、鈣鈦礦太陽(yáng)能電池PSC、量子點(diǎn)太陽(yáng)能電池、染料敏化太陽(yáng)能電池DSSC、無(wú)機(jī)太陽(yáng)能電池等光電器件進(jìn)行微觀機(jī)理測(cè)試

光焱科技新推出光炎量子效率光傳感器特性分析儀PD-QE測(cè)試系統(tǒng)，針對(duì)第三代半導(dǎo)體材料Photodiode/Photodetector的相關(guān)特性測(cè)試，整合新高精密直流可耐電壓偵測(cè)技術(shù)，與傳統(tǒng)交流模式下測(cè)量EQE使用鎖相放大器、電壓無(wú)法加過(guò)12V相比，該系統(tǒng)高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達(dá)0.1fA，可滿足客戶多種量測(cè)需求。

SG-O光炎量子效率分析儀光傳感器晶圓測(cè)試儀是一款CIS/ALS/Light-Sensor晶圓測(cè)試儀，它結(jié)合了高度均勻的光源和半自動(dòng)晶圓探測(cè)器。

光炎量子效率分析儀圖像傳感器測(cè)試儀是一個(gè)商用 CMOS 圖像傳感器測(cè)試儀。SG-A可以提供*的 CMOS 圖像傳感器參數(shù)表征，如全光譜量子效率 QE、整體系統(tǒng)增益 K、時(shí)間性暗噪聲、信噪比、靈敏度閾值、飽和容量、動(dòng)態(tài)范圍、DSNU、PRNU、線性誤差和射線角 CRA。